Контроль деталей, обратное проектирование и жизненный цикл изделия — тест

Изделие живёт дольше, чем длится его проектирование: его производят, проверяют, ремонтируют, модернизируют и утилизируют, и на всех этапах нужны одни и те же цифровые данные. Заключительные разделы направления «Моделирование и прототипирование» связывают сканирование, контроль и проектирование в единый цикл. Работа проверяет понимание этапов жизненного цикла и того, как скан помогает проверить или воссоздать деталь.

Содержание

Жизненный цикл изделия от замысла до утилизации, ИПИ-технологии (информационная поддержка жизненного цикла, CALS) и системы PLM и PDM. Измерение основных параметров объекта после сканирования. Сравнительный контроль: совмещение скана с эталонной CAD-моделью, карта отклонений, допуск, годная и негодная деталь; контроль единичных деталей и партий. Обратное проектирование: назначение и задачи, анализ конструкции по скану, восстановление параметрической модели. Моделирование поведения систем, концептуальная модель и её оптимизация.

Формат

Пятнадцать заданий: определить, годна ли деталь по допуску, прочитать карту отклонений, сопоставить этап жизненного цикла и пример, расставить шаги обратного проектирования, сопоставить систему и её назначение, дополнить текст о единой цифровой модели изделия. Двадцать пять минут.

Разбор

Пояснения объясняют, почему скан нельзя просто отправить на станок вместо модели, почему отклонение на карте в 0,05 мм может быть браком, а в 0,5 мм — нет (всё решает допуск), и чем выгодно хранить все данные об изделии в одной системе.

Назначение

Работа завершает курс направления и подходит для итогового контроля во втором полугодии одиннадцатого класса, а также как подготовка к индивидуальному проекту по контролю и обратному проектированию деталей.

Как и на чём выполнять тест

Комплект работает и на школьном компьютере, и на личном смартфоне ученика. Период выполнения задаётся гибко, поэтому работу проводят и в классе, и дома. Предусмотрен контроль честности: переключение на другие вкладки и приложения во время теста отслеживается.